Специальные испытательные камеры на тепловые удары соответствуют стандартам JESD22-A106B

В высококонкурентной и инновационной полупроводниковой и электронной промышленности камеры для испытаний на тепловой удар, разработанные в соответствии со стандартами испытаний на тепловой удар JESD22-A106B, становятся переломным моментом в обеспечении качества и долговечности электронных компонентов.

Эта изготовленная на заказ камера для теплового удара предназначена для подвергания широкого спектра полупроводниковых и электронных компонентов, таких как интегральные схемы, транзисторы, конденсаторы и разъемы, точному протоколу испытаний на тепловой удар, предписанному стандартом JESD22-A106B.

Она служит незаменимым инструментом для производителей полупроводников, проектных бюро электроники и лабораторий контроля качества. Общая цель состоит в том, чтобы оценить способность этих компонентов выдерживать быстрые и экстремальные перепады температуры.

Воссоздавая условия теплового удара, с которыми компоненты могут столкнуться в процессе производства, в течение срока службы и в различных сценариях окружающей среды, производители могут выявлять и устранять потенциальные слабые места, оптимизировать производственные процессы и повышать общую надежность и производительность своей электронной продукции.

• Прочная и высокопроизводительная конструкция камеры
  • Камера изготовлена из прочных термостойких материалов, способных выдерживать интенсивные тепловые нагрузки.
  • Стены изготовлены из высокопрочной легированной стали в сочетании с передовыми слоями теплоизоляции для минимизации теплопередачи между горячей и холодной зонами.
  • Дверь спроектирована с прецизионным механизмом уплотнения и смотровым окном, что позволяет операторам внимательно следить за процессом испытаний, не нарушая целостность камеры.
  • Внутренняя часть спроектирована с использованием специальных стоек и приспособлений, что позволяет размещать широкий спектр компонентов различных размеров и форм и обеспечивать равномерное воздействие условий теплового удара.
• Система управления температурой и циклического изменения с ультравысокой точностью
  • Диапазон температур и цикличность: Способна достигать широкого диапазона температур, как правило, от -80°C до +150°C. Система может выполнять быстрое циклическое изменение температуры между горячей и холодной зонами со временем перехода всего в несколько секунд. Это имеет решающее значение для имитации резких перепадов температуры, которые могут испытывать электронные компоненты. Контроль температуры осуществляется с точностью до ±0,2°C, обеспечивая высокую надежность и повторяемость результатов испытаний.
  • Программируемые температурные профили: Система управления камерой позволяет создавать и выполнять сложные, настраиваемые температурные профили. Операторы могут определять конкретные уровни температуры, время выдержки в каждой зоне, а также последовательность и количество циклов теплового удара для воспроизведения широкого спектра реальных производственных и рабочих условий. Эта гибкость обеспечивает всестороннее тестирование компонентов в различных критически важных сценариях.
• Интуитивно понятная панель управления и интерфейс сбора данных
  • Панель управления разработана для простоты использования инженерами-полупроводниками и электроникой. Она предлагает удобный интерфейс, который позволяет легко настраивать и регулировать все параметры испытаний, включая температуру, время циклов и идентификацию компонентов.
  • Панель также обеспечивает отображение в реальном времени текущей температуры в обеих зонах, состояния процесса испытаний и любых тревог или предупреждений.
  • Камера интегрирована с комплексной системой сбора данных, которая записывает все соответствующие данные испытаний. Это включает в себя подробную историю температуры, количество циклов и любые наблюдаемые изменения в электрических, физических или эксплуатационных характеристиках испытуемых компонентов.
  • Данные могут храниться в безопасном зашифрованном формате во встроенной памяти камеры или экспортироваться на внешние запоминающие устройства для углубленного анализа и отчетности. Система также может генерировать подробные отчеты об испытаниях в различных стандартизированных форматах.
• Расширенные функции безопасности
  • Для обеспечения безопасности операторов и защиты чувствительных образцов для испытаний и самой камеры предусмотрен набор передовых функций безопасности.
  • К ним относятся многоуровневая защита от перегрева и перегрузки по току, кнопки аварийной остановки с резервной схемой, а также сигнализация любых аномальных колебаний температуры, неисправностей оборудования или нарушений безопасности.
  • Камера также оснащена механизмами контроля доступа, такими как биометрическая аутентификация или устройства чтения смарт-карт, для предотвращения несанкционированного доступа и защиты секретных испытательных мероприятий.
  • Кроме того, она имеет автономную систему пожаротушения и надлежащие механизмы вентиляции и вытяжки для работы с любыми потенциально опасными газами или парами, которые могут образовываться во время испытаний.

• Диапазон температур и точность
  • Диапазон температур от -80°C до +150°C с точностью ±0,2°C обеспечивает всестороннюю и точную область испытаний.
  • Электронные компоненты часто имеют строгие требования к допуску температуры из-за их сложных внутренних структур и функций.
  • Например, электрические характеристики транзистора могут значительно изменяться в зависимости от температуры, и точный контроль температуры необходим для оценки его стабильности.
  • Широкий диапазон температур позволяет оценивать компоненты как в экстремально холодных, так и в горячих условиях, обеспечивая соответствие требованиям JESD22-A106B.
• Параметры цикла теплового удара
  • Камеру можно запрограммировать на выполнение настраиваемого количества циклов теплового удара, от нескольких десятков до нескольких тысяч, в зависимости от конкретных требований компонента и ожидаемого срока его службы.
  • Время выдержки в каждой температурной зоне можно регулировать от миллисекунд до часов, что позволяет моделировать широкий спектр производственных и эксплуатационных сценариев.
  • Например, интегральная схема, используемая в мобильном устройстве, может потребоваться для выдерживания коротких, частых циклов теплового удара во время использования, в то время как компонент в сервере может испытывать более длительные, менее частые циклы.